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X-Strata920金屬表面鍍層分析儀

日期:2024-11-23 01:01
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摘要:X-Strata920金屬表面鍍層分析儀,當決定產(chǎn)品成敗的差異小于1微米時,請選擇X-Strata920進行**鍍層分析,X-Stata920提供四種基臺配置以適應任意形狀的零件。帶有標準或?qū)捁潭ɑ_的開槽的樣品艙適合處理小型零件或長而薄的樣品,而加深樣品艙則可靈活測量較高的零件。選擇程控樣品臺,可自動測量多個樣品或單個組件上的各個位置。

X-Strata920金屬表面鍍層分析儀

*大化精度,*小化浪費

當決定產(chǎn)品成敗的差異小于1微米時,請選擇X-Strata920進行**鍍層分析

如果您在電子產(chǎn)品或金屬表面處理行業(yè)工作,我們可提供適于您業(yè)務的解決方案。X-Strata920具有多種配置選擇,可分析單鍍層和多鍍層(包括合金層)。

我們的內(nèi)部專家會對常規(guī)和復雜鍍層結(jié)構(gòu)進行測試及測量,確保您獲得可靠、可重復結(jié)果以滿足數(shù)百種應用,包括:PCB表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面處理、耐磨損處理、耐高溫性等。

X-Stata920提供四種基臺配置以適應任意形狀的零件。帶有標準或?qū)捁潭ɑ_的開槽的樣品艙適合處理小型零件或長而薄的樣品,而加深樣品艙則可靈活測量較高的零件。選擇程控樣品臺,可自動測量多個樣品或單個組件上的各個位置。

為工作選擇正確的工具
通過選擇比例計數(shù)器或硅漂移探測器(SDD),可確保擁有正確配置。比例計數(shù)器適用于大多數(shù)應用場合,但對于含有少量種類元素的簡單鍍層結(jié)構(gòu)而言,其效果*佳。當您需要分析更復雜的鍍層結(jié)構(gòu)或需要測量非常薄的鍍層(<0.05μm)時,推薦使用SDD。

X-Strata920 這一出色的工具可確保樣品符合規(guī)格,同時通過避免過度電鍍造成的化學品浪費和減少電鍍不足造成的廢料和返工來降低成本。操作員
只需加載樣品,將其定位在屏幕上的目標下方,使用激光焦點對齊,即可開始測量。結(jié)果在幾秒內(nèi)即可顯示出來,然后操作員可快速執(zhí)行下一個任務。這意味著您可確保在操作中*大限度地提高生產(chǎn)力。得益于通過可追溯標準打造的優(yōu)化校準方式,您將對結(jié)果的準確性充滿信心。
使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)標準,如IPC4552A、ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987。

借助直觀而強大的 SmartLink 軟件,您可在幾分鐘內(nèi)就成為專業(yè)用戶,該軟件旨在簡化操作員的日常分析工作